Оже - электронный спектрометр JEOL "JAMP-10S"
![]() |
Предназначен для качественного и количественного анализа состава сверхтонких поверхностных слоев и межфазных границ, сверхтонких наноразмерных пленок, наноразмерных частиц, мультислоев. Позволяет проводить исследование топографии поверхности с развитой структурой на наноразмерном уровне в режиме растровой электронной микроскопии.
Достигаемый рабочий вакуум - 10-7 Па. |