Russian
English
Arabic
Chinese (Simplified)
Chinese (Traditional)
French
German
Italian
Japanese
Kazakh
Portuguese
Spanish
Turkish

Оже - электронный спектрометр JEOL "JAMP-10S"


   

Предназначен для качественного и количественного анализа состава сверхтонких поверхностных слоев и межфазных границ, сверхтонких наноразмерных пленок, наноразмерных частиц, мультислоев. Позволяет проводить исследование топографии поверхности с развитой структурой на наноразмерном уровне в режиме растровой электронной микроскопии.

Достигаемый рабочий вакуум - 10-7 Па.
Электронная пушка с энергией электронов - до 10 кэВ
Диаметр электронного зонда - 25 нм
Энергетическое разрешение - (ΔЕ/Е) 0,35
Локальность анализа - 50 нм по поверхности и 1 - 5 нм по глубине слоя.