Оборудование

Сканирующий электронный микроскоп Thermo Fisher Scientific Quattro S

Сканирующий электронный Thermo Fisher Scientific Quattro S с электронной пушкой с полевой эмиссией, оснащен системой энергодисперсионного микроанализа на основе спектрометра EDAX "Octane Elect Plus EDS System".

Электронный спектрометр SPECS

Предназначен для изучения электронной структуры, химического состава и химических связей сверхтонких поверхностных слоев и тонких пленок, наноструктур, порошков с послойным анализом.

Spectro Analytical Instruments GmbH Spectroflame Modula S

Сканирующий ICP спектрометр Spectro Analytical Instruments GmbH "Spectroflame Modula S"

Синхронный ДТА/ТГА анализатор Perkin Elmer STA8000 с ИК-Фурье спектрометром Spectrum Two

Предназначен для анализа материалов по изменению массы (ТГА), температурных и тепловых эффектов при фазовых переходах, энтальпии (ДСК/ДТА) при нагревании в широком температурном диапазоне с идентификацией продуктов разложения образцов методом ИК-спек...

Рентгеновский дифрактометр Bruker AXS "D8 Advance"

Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 Advance (Bruker AXS GmbH, Германия)

Электронный спектрометр JEOL "JAMP-10S"

Оже - электронный спектрометр JEOL "JAMP-10S" Позволяет проводить исследование топографии поверхности с развитой структурой на наноразмерном уровне в режиме растровой электронной микроскопии.

Рентгеноэлектронный спектрометр ЭЗАН "ЭС-2401"

Предназначен для проведения качественного и количественного анализа сверхтонких поверхностных слоев вещества и тонких пленок, исследование электронной структуры и химической связи, послойный анализ распределения элементов.

ПАК на основе микроскопа Ntegra SOLARIS

Программно-аппаратный комплекс для изучения рельефа поверхности и физико-химических характеристик объектов с нанометровым пространственным разрешением на основе сканирующего зондового микроскопа Ntegra SOLARIS

Дифрактометр рентгеновский Rigaku Miniflex 600

Настольный рентгеновский дифрактометр предназначен для исследования строения поликристаллических и аморфных материалов.

Спектрометр ядерного гамма-резонанса SM2201DR

Предназначен для исследования в традиционных схемах мессбауэровской гамма-оптики

Комплект рентгеноэлектронного спектрометра ЭМС-3

Комплект рентгеноэлектронного спектрометра ФТИ УрО РАН "ЭМС-3". Предназначен для изучения электронной структуры и химического строения сверхтонких поверхностных слоев, релаксационных процессов в высокотемпературных расплавах.

Комплексная система измерений и исследований в наномасштабе Micro Materials Ltd "Nanotest 600"

Комплексная система исследований в наномасштабе «Nanotest 600» (Micro Materials Ltd, Великобритания), мощная модульная платформа, созданная для тестирования, определения характеристики, исследования и разработки материалов в нано- и микромасштабах.

Дифрактометр Bruker ASX "D2 Phazer Theta"

Рамановский спектрометр Horiba "Jobin Yvon HR 800"

Ахроматический спектрограф Черни-Тернера с фокальным расстоянием F=800 мм и оптическим разрешением 0.3 см-1.

Установка универсальная для механических испытаний

Универсальная установка для механических испытаний (ООО «Метротест», Россия)

Шаровая планетарная мельница Fritsch Pulverisette 7 Classic Line

Планетарная шаровая мельница Fritsch Pulverisette 7 Classic Line предназначена для проведения механоактивационного воздействия (механическое измельчение, механическое сплавление, механохимический синтез) на твердые вещества в различной атмосфере и жи...

Комплекс пробоподготовки

Комплекс пробоподготовки для сканируюшей электронной микроскопии 1. Установка ионной полировки образцов SEMPrep2 (Linda TechnoOrg, Венгрия) для высококачественной подготовки образцов для сканирующей электронной микроскопии. 2. Станок отрезной ПОЛИЛ...