Программно-аппаратное обеспечение сканирующего туннельного микроскопа для контроля геометрических параметров наночастиц

ЗаголовокПрограммно-аппаратное обеспечение сканирующего туннельного микроскопа для контроля геометрических параметров наночастиц
Тип публикацииConference Paper
Год издания2010
АвторыШелковников Ю. К., Гуляев П. В., Осипов Н. И., Липанов А. М.
Название конференцииБайкальские чтения: наноструктурированные системы и актуальные проблемы механики сплошной среды (теория и эксперимент)
Нумерация страниц31-33
PublisherИПМ УрО РАН
Место проведения конференцииИжевск