Osipov N..

2017
2016
2015
Шелковников Е. Ю., Гуляев П. В., Тюриков А. В., Осипов Н. И., Кизнерцев С. Р., Кириллов А. И. МЕТОДЫ И СРЕДСТВА КОНТРОЛЯ ДИСПЕРСНОСТИ НАНОЧАСТИЦ В СКАНИРУЮЩЕЙ ТУННЕЛЬНОЙ МИКРОСКОПИИ // МЕХАНИКА И ФИЗИКО-ХИМИЯ ГЕТЕРОГЕННЫХ СРЕД, НАНОСИСТЕМ И НОВЫХ МАТЕРИАЛОВ Материалы научных исследований. Ижевск, 2015, Ижевск, 2015.
2014
2013
2012
Шелковников Е. Ю., Тюриков А. В., Гуляев П. В., Осипов Н. И., Кизнерцев С. Р., Гафаров М. Р., Суворов А. С., Тарасов М. В. Сканирующий туннельный микроскоп / Патент РФ на изобретение №2465676 МПК Н01J 37/285, опубл. 27.10.2012, Бюл. №30, Российская Федерация, 2012.
2011
2010